Svepprobmikroskopi

Kursen behandlar moderna svepprobtekniker, främst sveptunnelmikroskopi och svepkraftmikroskopi, avseende såväl teori som praktik. Den fysikaliska grundvalen och teorin för STM och SFM tas upp ingående, liksom de grundläggande mätmetoderna. Vidare behandlas avancerade mät- och analysmetoder och artefakter, samt manipulation med STM och SFM. Många exempel på användning av SPM-tekniker i aktuell forskning och industri ges. Slutligen behandlas översiktligt andra SPM-tekniker. Kursen innehåller en laborativ del med obligatorisk närvaro.

Kursinnehåll: 

Grundläggande experimentella och tekniska aspekter på svepprobmikroskopi.

STM: Teori för STM. Mätmetoder, upplösning, tunnelspektroskopi, låg-temperatur-STM, inelastisk tunnling, spin-polariserad STM. Avancerad analys, elektroniska och atomära effekter, artefakter, manipulering på atomär nivå.

SFM: Instrumentering för SFM, inkluderande sensorer för kantileverns avböjning, spetspreparering. Relevanta krafter för SFM.

Mätmetoder: statiska och dynamiska metoder, kontakt-, "tapping"- och icke-kontakt-moder. Mätning av magnetiska krafter. Spektroskopi, avancerad analys och artefakter i SFM. Översikt över manipulering och litografi med SFM. Översikt över andra SPM-tekniker, bland annat scanning near-field optical microscopy (SNOM).

Fördjupningsnivå: A1N (har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav)

Utbildningsnivå: Avancerad nivå

Behörighetskrav: Matematik 45 hp och fysik 60 hp, inkluderande kurserna Kvantfysik I 7,5 hp och Fasta tillståndets fysik 7,5 hp. Gymnasiets Engelska kurs 6. Motsvarandebedömning kan göras.

Kursen ingår i följande program

• Civilingenjör Teknisk fysik (läses år 4)
• Masterprogram i fysik - Inriktning nanomaterial (läses år 2)
• Masterprogram i fysik - Inriktning teoretisk fysik (läses år 2)
• Påbyggnadsprogram i Teknisk fysik mot civilingenjörsexamen (läses år 2)