Svepprobmikroskopi

Course content: Fundamental experimental and technical aspects of scanning probe microscopy. STM: STM theory, Measurements modes, resolution limits, tunneling spectroscopy, lowtemperature STM, inelastic tunneling, spin-polarised STM. Advanced analysis, electronic and atomic effects, artifacts, manipulation on atomic level. SFM: Instrumental aspects, including cantilevers deflection sensors and tip preparation. Relevant forces for SFM. Measurement modes: static and dynamic methods, contact, "tapping" and non-contact methods. Magnetic force measurements. Spectroscopy, advanced analysis, artifacts in SFM. Overview of manipulation and lithography with SFM. Overview of other SPM techniques, including scanning near-field optical microscopy (SNOM).

Fördjupningsnivå: A1N (har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav)

Utbildningsnivå: Avancerad nivå

Behörighetskrav: Matematik 45 hp och fysik 60 hp, inkluderande kurserna Kvantfysik I 7,5 hp och Fasta tillståndets fysik 7,5 hp. Gymnasiets Engelska kurs 6. Motsvarandebedömning kan göras.

Kursen ingår i följande program

• Civilingenjör Teknisk fysik (läses år 4)
• Masterprogram i fysik - Inriktning nanomaterial (läses år 2)
• Masterprogram i fysik - Inriktning teoretisk fysik (läses år 2)
• Påbyggnadsprogram i Teknisk fysik mot civilingenjörsexamen (läses år 2)